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表面・界面工学大系 上巻 基礎編
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［コードNo.05FJT061］
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■執筆陣／
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１１８名
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■造 本／
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Ｂ５判 函入り上製
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■体 裁／
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横２段組 １,１３６頁
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■発 行／
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２００５年 ３月 １９日 (株)フジ・テクノシステム
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■定 価／
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５４,６００円（税込価格）
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※ 本書は試読頂けます ※
お申込みの際、通信欄に「試読希望」とお書き添え下さい
| 編集顧問 |
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| 本多健一 | 日本学士院会員 東京大学名誉教授 東京工芸大学名誉学長 |
| 編集幹事 |
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| 廣川一男 | 廣川産業・技術研究所所長 |
| 編集委員（五十音順） |
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| 市田俊郎 | (前)川崎製鉄(株) 技術研究所顧問 |
| 川瀬進 | 綜研化学(株) 取締役 研究開発センター長 |
| 北崎寧昭 | (前)ニチバン(株) メディカル研究所顧問 |
| 角澤明 | コンサルトネット代表 |
| 中村昌允 | 東京農工大学大学院技術経営研究科技術リスクマネジメント専攻教授 同大学産官学連携・知的財産センター客員教授 |
| 藤井定美 | (有)フジイ産業代表取締役 |
| 松本丞士 | 関西大学講師 |
| 村瀬平八 | 界面科学技術機構代表 |
| 目次 |
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| 第1章 | 総論−表面・界面とは |
| 第1節 | 表面と界面 |
| 第2節 | 表面とバルク |
| 第3節 | 環境と表面（汚れた表面、清浄表面） |
| 第4節 | 機能性表面 |
| 第5節 | 泡 |
| 第6節 | 自然界の表面 |
| 第7節 | 表面の腐食 |
| 第8節 | 表面の摩擦 |
| 第9節 | 微生物の表面科学 |
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| 第2章 | 表面構造 |
| 第1節 | 有機の酸化による変性 |
| 第2節 | セラミックスの表面 |
| 第3節 | 非晶質合金の表面 |
| 第4節 | 触媒の表面 |
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| 第3章 | 分子間力と電子状態理論 |
| 第1節 | 自然界に存在する４種の力 |
| 第2節 | 分子間力の発展の歴史 |
| 第3節 | 分子間力の特性 |
| 第4節 | 分子間力 |
| 第5節 | 分子間力と各種界面現象のパラメータとの相関 |
| 第6節 | 量子力学の界面現象への応用 |
| 第7節 | 電子状態（分子軌道法を用いた相互作用計算） |
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| 第4章 | 表面・界面の電子状態およびエネルギー |
| 第1節 | 表面準位 |
| 第2節 | 原子配列と電子状態 |
| 第3節 | 内殻電子のエネルギー状態 |
| 第4節 | 電子の殻構造 |
| 第5節 | ＫＬＬオージェ |
| 第6節 | 表面ダングリングボンド |
| 第7節 | 界面原子の結合エネルギー |
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| 第5章 | 物質間の相互作用 |
| 第1節 | 混合の熱力学（相溶性）と相図 |
| 第2節 | 高分子の相溶性と相分離 |
| 第3節 | ぬれの理論 |
| 第4節 | 接着の理論 |
| 第5節 | 計算化学による相互作用の算出 |
| 第6節 | 吸着理論 |
| 第7節 | 溶融・拡散 |
| 第8節 | 蒸発・気化 |
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| 第6章 | 結晶表面 |
| 第1節 | 結晶の性質 |
| 第2節 | 逆格子と回析 |
| 第3節 | 結晶表面とバルク結晶−再構成構造とその表示 |
| 第4節 | 二次元格子と逆格子 |
| 第5節 | 結晶成長と表面 |
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| 第7章 | 表面の励起・照射 |
| 第1節 | 表面プラズモン |
| 第2節 | エキシトン（励起子） |
| 第3節 | 表面ポラリトン |
| 第4節 | 表面における素励起 |
| 第5節 | 表面マグノン・表面マグノンポラリトン |
| 第6節 | 表面増強ラマン散乱 |
| 第7節 | ミューオンによる表面解析 |
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| 第8章 | （固体）界面の特性 |
| 第1節 | 界面の電子状態 |
| 第2節 | 材料と力学的特性 |
| 第3節 | 界面の強度 |
| 第4節 | 粒界 |
| 第5節 | 金属 |
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| 第9章 | 界面電気 |
| 第1節 | 界面電気とは |
| 第2節 | 界面静電現象 |
| 第3節 | 電気二重層の相互作用 |
| 第4節 | ヘトロ凝集 |
| 第5節 | 界面動電現象 |
| 第6節 | 非水系の界面電気現象 |
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| 第10章 | 界面化学材料とその原理 |
| 第1節 | 界面活性剤 |
| 第2節 | 潤滑剤（固体） |
| 第3節 | 接着剤 |
| 第4節 | 塗料 |
| 第5節 | 膜分離 |
| 第6節 | 防食処理 |
| 第7節 | 消臭剤 |
| 第8節 | 防湿剤または乾燥剤 |
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| 第11章 | 表面薄膜形成の基礎過程 |
| 第1節 | 薄膜の成長様式 |
| 第2節 | エピタキシャル成長 |
| 第3節 | ＬＢ膜 |
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| 第12章 | 粒子系薄膜形成 |
| 第1節 | バイオインターフェースを用いた微粒子パターニング技術 |
| 第2節 | コロイド分散相からの粒子系薄膜形成 |
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| 第13章 | 洗浄理論 |
| 第1節 | 洗浄の基礎メカニズム |
| 第2節 | 洗浄剤 |
| 第3節 | 環境負荷の少ない新洗浄技術 |
| 第4節 | 洗浄評価法 |
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| 第14章 | 物質の種類と分析法の適用 |
| 第1節 | 金属 |
| 第2節 | セラミックス |
| 第3節 | 磁性体 |
| 第4節 | 半導体 |
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| 第15章 | 分析法各論 |
| 第1節 | 顕微鏡 |
| 第2節 | 各種表面・界面分析法の原理 |
| 第3節 | 界面の種類と分析法の適用 |
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| 第16章 | 分析システムの構成と要素機器 |
| 第1節 | Ｘ線発生装置 |
| 第2節 | 赤外線発生装置 |
| 第3節 | 真空システム |
| 第4節 | レーザーを用いた表面研究 |
| 第5節 | 原子核反応を利用する分析 |
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| 第17章 | 汎用的分析システムの応用例 |
| 第1節 | オージェ電子分光法（ＡＥＳ） |
| 第2節 | Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳまたはＥＳＣＡ） |
| 第3節 | 斜入射Ｘ線回析法による薄膜構造と表面・界面の評価法 |
| 第4節 | Ｘ線ＣＴＲ散乱法 |
| 第5節 | 電子プローブ微小部分析法（電子プローブ・マイクロアナライザー；ＥＰＭＡ） |
| 第6節 | 低速電子回析（ＬＥＥＤ） |
| 第7節 | 反射高速電子回析（ＲＨＥＥＤ） |
| 第8節 | 透過電子顕微鏡（ＴＥＭ） |
| 第9節 | 走査電子顕微鏡（ＳＥＭ） |
| 第10節 | 走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ） |
| 第11節 | 走査透過電子顕微鏡（ＳＴＥＭ） |
| 第12節 | 反射電子顕微鏡（ＲＥＭ）法 |
| 第13節 | 偏光顕微鏡 |
| 第14節 | ダイナミックモードＡＦＭ |
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| 第18章 | 質量分析法 |
| 第1節 | 質量分析法とその原理 |
| 第2節 | 質量分析計の種類・特徴 |
| 第3節 | 資料導入系 |
| 第4節 | ＧＣ−ＭＳとＬＣ−ＭＳ（分離装置と結合したＭＳ） |
| 第5節 | タンデム質量分析法 |
| 第6節 | イオン付着質量分析法 |
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| 第19章 | 有機物・無機物の分析例 |
| 第1節 | 有機吸着物 |
| 第2節 | セラミックス・高分子 |
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| 第20章 | その他の分析法および測定法 |
| 第1節 | 電気的量の測定 |
| 第2節 | 力学量の測定 |
| 第3節 | 反応性脱離と物理化学測定 |
| 第4節 | 幾何学的形状の測定 |
| 第5節 | 界面強度の測定 |
| 第6節 | 温度の測定 |
| 第7節 | 熱分析 |
| 第8節 | ＮＭＲおよびＥＳＲ |
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| 第21章 | 界面電気現象の測定法 |
| 第1節 | 電気二重層 |
| 第2節 | 電気毛管現象と微分容量 |
| 第3節 | 界面動電現象の測定 |
| 第4節 | 気液界面の表面電位 |
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| 第22章 | 分析のための周辺技術−真空技術 |
| 第1節 | 真空と表面分析 |
| 第2節 | 真空の基礎 |
| 第3節 | 真空用材料 |
| 第4節 | 真空度測定 |
| 第5節 | 高真空排気システム |
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| 第23章 | 分析のための前処理技術と分析表面への影響 |
| 第1節 | 分析のための前処理技術 |
| 第2節 | 雰囲気、および建物・装置構成材料からの有機物による固体表面への影響 |
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| 第24章 | 表面・界面の設計理論 |
| 第1節 | 第一原理計算 |
| 第2節 | ＳＴＭシミュレーションを用いた表面における吸着構造の解析 |
| 第3節 | 化学ポテンシャルを用いた安定性の評価 |
| 第4節 | 第一原理計算による表面光学特性の評価 |
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